變頻串聯(lián)諧振試驗裝置應(yīng)用性能分析：

對變頻串聯(lián)諧振應(yīng)用分析的時候，變頻串聯(lián)諧振其諧振頻率，其中L為電抗器的電感值，如有幾個電抗器串并聯(lián)使用應(yīng)考慮互感的影響；C為被試品及分壓電容器的和，現(xiàn)場可以用電橋或介損儀進行實際測量獲得。高壓電流I=2πfCU，由被試品的電氣參數(shù)和出廠耐壓試驗值，可確定現(xiàn)場的耐壓試驗電壓U；有功功率P=1.2（P0+PK），其中P0為勵磁變空載損耗，PK為電抗器額定有功損耗。
變頻串聯(lián)諧振試驗過程中，勵磁變的容量應(yīng)大于有功功率P，并在勵磁變zui低輸出電壓滿足試驗要求的前提下盡量降低勵磁變的變比，從而相應(yīng)減小勵磁變原邊的輸入電流。試驗電源容量S=P+P1，其中P1為變頻電源本身的損耗，由電源端輸入電壓為380V可得電源電流I1=。試驗中電抗器的額定電壓和電流也應(yīng)大于試驗電壓和高壓電流，當(dāng)電抗器采取串并聯(lián)以滿足試驗要求時，必須計算每個電抗器上所承受的電壓和電流不超限值。
變頻串聯(lián)諧振試驗裝置在現(xiàn)場試驗中，通常采用16mm2以上的裸銅線接地，裸銅線其寄生電感在μH數(shù)量級，約0.1-1μH/m，直流電阻約0.1mΩ，如果接地線有彎曲環(huán)繞現(xiàn)象，電感量可增加到10-1000μH/m。試品絕緣通常在交流電壓的正峰值或負(fù)峰值被擊穿，試品被擊穿瞬間試品上的電壓zui高，擊穿后試品上的電壓跌落到零的時間一般在0.1-10μs之間，具體情況與擊穿點的實際情況有關(guān)。從放電能量上看，即使放電時，試品的zui小電容量只有0.002μF，實際試驗時試品電容量遠大于該值。如以放電時頻率為100kHz、地線寄生電感為1μH、放電電流為1000A計算，地線的寄生感抗XL==0.628Ω，地線可能產(chǎn)生的過電壓Ud=If XL=1000×0.628=628V。